28aCH-4 高速クラスター照射における二次電子と透過イオンの同時測定(28aCH 放射線物理(放射線計測・2次電子放出・クラスター・放射線損傷),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))  [in Japanese] 28aCH-4 Coincidence measurements of secondary electron yield and number of transmitted ions under irradiation of fast cluster ions  [in Japanese]

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  • Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan

    Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan 69.1.2(0), 190, 2014

    The Physical Society of Japan

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