28pAM-12 電子線照射下および暗黒下における4H-SiC中部分転位の運動(28pAM 格子欠陥・ナノ構造(金属・半導体・転位・面欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • 28pAM-12 Partial dislocation motion in 4H-SiC with/without electron beam irradiation

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680938576512
  • NII論文ID
    110009836927
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.69.1.4.0_933_1
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ