改良ランダムオーダースキャンによるセキュアスキャン設計とその評価 (VLSI設計技術) Secure scan design using improved random order scans and its evaluations

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抄録

大規模集積回路のテスト容易化設計の1つであるスキャンチェインを利用したスキャンテストが一般的に行われる.反面スキャンチェインを利用して,暗号回路の秘密鍵が解読されるなどのスキャンベース攻撃が問題となっている.スキャンチェインをスキャンベース攻撃から保護するために,セキュアスキャンアーキテクチャの必要性が高まってきた.セキュアスキャンアーキテクチャは,テスト性を保証すると共にスキャンベース攻撃からスキャンチェインを保護する必要がある.本稿では,セキュアスキャンアーキテクチャとして改良ランダムオーダースキャンを提案する.改良ランダムオーダースキャンは,ランダムオーダースキャンを改良したものであり,スキャンチェインの構造を動的に変化させ,スキャンベース攻撃からスキャンチェインを保護する.スキャンチェインを複数のサブチェインに分割し,イネーブル信号でスキャンアウトさせるサブチェインを次々と選択することで,スキャンチェインの構造が動的に変化する.改良ランダムオーダースキャンの安全性とテスト性を議論し,また計算核実験により面積オーバーヘッドが小さいセキュアスキャンアーキテクチャであることを示す.

Scan test using scan chains is one of the most important DFT techniques. On the other hand, scan-based attacks are reported which can retrieve the secret key in crypto circuits by using scan chains. Secure scan architecture is strongly required to protect scan chains from scan-based attacks. In this paper, we propose an improved version of random order scans as a secure scan architecture. In our improved random order scans, a scan chain is partitioned into multiple sub-chains. The structure of the scan chain changes dynamically by selecting a subchain to scan out using enable signals. We also discuss testability and security of our improved random order scans and demonstrate their effectiveness through implementation results.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(454), 43-48, 2014-03-03

    一般社団法人電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009862565
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10013323
  • 本文言語コード
    JPN
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL 記事登録ID
    025409709
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    NDL  NII-ELS 
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