8aAE-10 短寿命核^<12>Bのスピン-スピン緩和時間によるSi中B不純物拡散の研究(8aAE 格子欠陥(水素・照射損傷・拡散),領域10(構造物性(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)))

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書誌事項

タイトル別名
  • 8aAE-10 Diffusion of B impurities in Si studied by spin-spin relaxation time of short-lived nucleus ^<12>B

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680941660160
  • NII論文ID
    110009874320
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.69.2.4.0_690_1
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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