8aAE-10 短寿命核^<12>Bのスピン-スピン緩和時間によるSi中B不純物拡散の研究(8aAE 格子欠陥(水素・照射損傷・拡散),領域10(構造物性(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)))
書誌事項
- タイトル別名
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- 8aAE-10 Diffusion of B impurities in Si studied by spin-spin relaxation time of short-lived nucleus ^<12>B
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 69.2.4 (0), 690-, 2014
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680941660160
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- NII論文ID
- 110009874320
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles