テラヘルツ帯計量標準の研究開発動向 (特集 最新テラヘルツ技術と実用化に向けた取組み) -- (テラヘルツ技術の応用例)  [in Japanese] Recent Research of Terahertz Metrology Standards  [in Japanese]

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Author(s)

    • 島田 洋蔵 SHIMADA Yozo
    • 独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門 National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
    • 飯田 仁志 IIDA Hitoshi
    • 独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門 National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
    • 木下 基 KINOSHITA Moto
    • 独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門 National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Abstract

テラヘルツ波と呼ばれる(電波と光の間に位置する/テラヘルツ帯の周波数を持つ)電磁波はテラヘルツギャップと言われていたように長い間未開拓領域であったが,最近では技術の進歩によって比較的容易に発生・検出することが可能になったため,多くの応用製品が実用化されつつある.これらの製品に対する信頼性保証や電磁環境両立性,生体ばく露基準などを定める上で基本となる測定の精度評価が不可欠であるが,未開拓領域であったがゆえにこれまで精度評価技術や計量標準の開発は余り進んでいなかった.しかし昨今の技術革新によりここ数年の間にテラヘルツ帯計量標準に進展が見られるので一例を紹介する.

Journal

  • The Journal of the Institute of Electronics, Information, and Communication Engineers

    The Journal of the Institute of Electronics, Information, and Communication Engineers 97(11), 1000-1005, 2014-11

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110009890801
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN1001339X
  • Text Lang
    JPN
  • ISSN
    0913-5693
  • NDL Article ID
    025895919
  • NDL Call No.
    Z16-192
  • Data Source
    NDL  NII-ELS 
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