ハードウェアトロイに含まれるネットに着目したハードウェアトロイ検出手法 (VLSI設計技術) -- (デザインガイア2014 : VLSI設計の新しい大地) A Hardware Trojans Detection Method focusing on Nets in Hardware Trojans in Gate-Level Netlists

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著者

    • 大屋 優 OYA Masaru
    • 早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報通信・情報理工学専攻 Dept. Computer Science and Communications Engineering, Waseda University
    • 柳澤 政生 [他] YANAGISAWA Masao
    • 早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報通信・情報理工学専攻 Dept. Computer Science and Communications Engineering, Waseda University
    • 戸川 望 TOGAWA Nozomu
    • 早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報通信・情報理工学専攻 Dept. Computer Science and Communications Engineering, Waseda University

抄録

近年チップの製造をサードパーティに外注するようになり,ハードウェアトロイが挿入される可能性が高まってきた.特に設計段階では簡単にハードウェアトロイを挿入することができる.ゲートレベルのネットリストに対してハードウェアトロイ検出手法を適用する場合,我々はGoldenネットリストを持っておらず,挿入されているハードウェアトロイを活性化するという条件下でハードウェアトロイを検出する手法が存在するのみである.本稿では,Goldenネットリストが無く,ハードウェアトロイを活性化させなくてもハードウェアトロイを検出する手法として,低スイッチング確率のネット(LSLGネットと呼ぶ)の検出を通じてハードウェアトロイを検出する手法を提案する.LSLGネットはネットリストに含まれるネットの数%であるにも関わらず,Trust-HUBのAbstraction Gate Levelで公開されているハードウェアトロイが挿入されている全てのゲートレベルのネットリストに対して,ハードウェアトロイの一部を検出することに成功した.提案手法にかかる時間は高々十数分程度である.

Recently, digital ICs are designed by outside vendors to reduce design costs in semiconductor industry. This circumstance introduces risks that malicious attackers implement Hardware Trojans (HTs) into ICs. HTs are easily inserted in particular during design phase, but HTs detection is too difficult during this phase. This is why we have to assume Golden Netlists and activation of HTs in previous researches. This paper proposes an HT detection method through detecting LSLG nets, which have low switching probabilities. Our approach does not assume Golden netlists nor activation of HTs. We succesfully find out that all HT-inserted gate-level netlists from Trust-HUB benchmarks include a small number of LSLG nets. It takes approximately ten minutes to detect LSLG nets in each benchmark.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(328), 135-140, 2014-11-26

    一般社団法人電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009962330
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10013323
  • 本文言語コード
    JPN
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL 記事登録ID
    025983076
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    NDL  NII-ELS 
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