A-9-2 低電力なソフトエラー耐性をもつNew-SEHラッチの設計(A-9.信頼性,一般セッション) A-9-2 Low-power soft-error tolerant New-SEH latch scheme

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著者

収録刊行物

  • 電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ/NOLTAソサイエティ大会講演論文集

    電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ/NOLTAソサイエティ大会講演論文集 2015年_基礎・境界, 106, 2015-08-25

    一般社団法人電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110009996089
  • NII書誌ID(NCID)
    AA12732012
  • 本文言語コード
    JPN
  • ISSN
    2189700X
  • データ提供元
    NII-ELS 
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