27aSN-2 J-PARC muon g-2/EDM精密測定実験 : シリコンストリップ検出器用読み出しASICのTEG性能調査

• 真玉 将豊

  九大理:Open-It

• 池田 博一

  Open-It:JAXA

• 池野 正弘

  Open-It:KEK素核研

• 上野 一樹

  Open-It:KEK素核研

• 内田 智久

  Open-It:KEK素核研

• 川越 清以

  九大理

• 高力 孝

  Open-It:KEK素核研

• 齊藤 直人

  KEK素核研

• 佐々木 修

  Open-It:KEK素核研

• 庄子 正剛

  Open-It:KEK素核研

• 調 翔平

  九大理:Open-It

• 末原 大幹

  九大理:Open-It

• 田中 真伸

  Open-It:KEK素核研

• 東城 順治

  九大理:Open-It

• 長澤 翼

  九大理

• 西村 昇一郎

  東大理

• 三部 勉

  Open-It:KEK素核研

• 村上 武

  Open-It:KEK素核研

• 吉岡 瑞樹

  九大RCAPP

• J-PARC muon g-2

• EDMコラボレーション

書誌事項

タイトル別名

• 27aSN-2 J-PARC muon g-2/EDM experiment:performance study of TEG chip of the readout ASIC for the sillicon strip detector

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 70.2 (0), 95-, 2015

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001205956440192
• NII論文ID: 110010028444
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.70.2.0_95
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles