20pAB-12 X線ピクセル型検出器によるGeV領域γ線ビームプロファイル測定 2

• 神田 浩樹

  東北大理

• 本田 和久

  東北大理

• 石川 貴嗣

  東北大ELPH

• 金田 雅司

  東北大理

• 木戸 聡

  東北大ELPH

• 前田 和茂

  東北大理

• 松村 裕二

  東北大ELPH

• 宮部 学

  東北大ELPH

• 室井 佑太

  東北大理

• 中村 哲

  東北大理

• 二宮 亜紀

  東北大理

• 小原 裕貴

  東大理

• 小沢 恭一郎

  KEK素核研

• 尾関 啓一

  東北大理

• 佐々木 貴之

  東北大理

• 清水 肇

  東北大ELPH

• 時安 敦史

  東北大ELPH

書誌事項

タイトル別名

• 20pAB-12 Profiling of GeV γ Beams with an X-ray pixel sensor 2

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 71.1 (0), 326-, 2016

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001205958125312
• NII論文ID: 110010056369
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.71.1.0_326
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles