Strain Effects on Electronic Bandstructures in Nanoscaled Silicon: From Bulk to Nanowire

• 前川, 忠史

• 山内, 恒毅

• 原, 孟史

• 土屋, 英昭

• 小川, 真人

収録刊行物

• IEEE Transactions on Electron Devices

  IEEE Transactions on Electron Devices 56 (4), 553-559, 2009-04

  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

詳細情報

• CRID: 1050294045371789312
• NII論文ID: 120001460047
• HANDLE: 20.500.14094/90000910
• ISSN: 00189383
• 本文言語コード: en
• 資料種別: journal article
• データソース種別:
  • IRDB
  • CiNii Articles