Architecture Challenge on SoC Design with Unreliable Transistors

• 佐藤, 寿倫

  九州大学システムLSI研究センター

抄録

International SoC Design Conference : October 15-16 : Korea

収録刊行物

• International SoC Design Conference

  International SoC Design Conference 25-30, 2007-10

キーワード

• soft errors
• parameter variations
• device wearout
• typical-case design
• canary flip-flop

詳細情報

• CRID: 1050298532702919936
• NII論文ID: 120006655435
• HANDLE: 2324/8312
• 本文言語コード: en
• 資料種別: conference paper
• データソース種別:
  • IRDB
  • CiNii Articles
  • KAKEN