A unified approach to the measurement error problem in time series models

• 田中, 勝人

  Hitotsubashi University

収録刊行物

• Econometric theory

  Econometric theory 18 (2), 278-296, 2002-04

  Cambridge University Press

キーワード

• LM Test
• Long memory
• Measurement error
• Random walk
• Time series

詳細情報

• CRID: 1050850490554521472
• NII論文ID: 120006933868
• NII書誌ID: AA10444800
• ISSN: 02664666
• HANDLE: 10086/13410
• 本文言語コード: en
• 資料種別: journal article
• データソース種別:
  • IRDB
  • CiNii Articles
  • KAKEN