フェムト秒時間分解電子顕微鏡の研究

• 楊 金峰

  大阪大学産業科学研究所

• 吉田 陽一

  大阪大学産業科学研究所

• 柴田 裕実

  大阪大学産業科学研究所

書誌事項

タイトル別名

• Femtosecond Time-resolved Electron Microscopy
• フェムトビョウ ジカン ブンカイ デンシ ケンビキョウ ノ ケンキュウ

抄録

The revealing and understanding of ultrafast structural-change induced dynamics are essential not only in physics, chemistry and biology, but also are indispensable for the development of new materials, new devices and applications. A new radio-frequency electron gun based ultrafast relativistic electron microscopy (UEM) has being developed in Osaka University to probe directly structural changes at the atomic scale with sub-100 fs temporal resolution in materials. The first prototype of femtosecond time-resolved relativistic-energy UEM has been constructed at end of October in 2012. Both relativistic-energy electron diffraction and image measurements have been succeeded using a femtosecond electron beam. In this paper, the development of the UEM prototype and the first experiments of relativistic-energy electron imaging were reported.

収録刊行物

• 電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌）

  電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌） 134 (4), 515-520, 2014

  一般社団法人 電気学会

キーワード

• 時間分解電子顕微鏡
• 透過型電子顕微鏡
• フェムト秒電子イメージング
• 高周波電子銃

詳細情報

• CRID: 1390282679584284032
• NII論文ID: 130003391753
• NII書誌ID: AN10065950
• DOI: 10.1541/ieejeiss.134.515
• ISSN: 13488155
• ISSN: 03854221
• NDL書誌ID: 025468421
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025468421
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/134/4/134_515/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可