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- KAJIHARA Yusuke
- 東京大学生産技術研究所 機械・生体系部門
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- LIN Kuan-Ting
- 東京大学生産技術研究所 機械・生体系部門
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- KIM Sunmi
- 東京大学生産技術研究所 機械・生体系部門
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- KOMIYAMA Susumu
- 東京大学総合文化研究科 複雑系生命システム研究センター
Bibliographic Information
- Other Title
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- パッシブかつナノスケールなTHz顕微技術
- パッシブ カツ ナノスケール ナ THzケンビギジュツ
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Abstract
This report describes a new microscopy technique, which probes spontaneous emission from samples with nanoscale spatial resolution. We have developed a passive THz near-field microscope by introducing an ultrahighly sensitive THz detector (CSIP) and a scattering-type scanning near-field optical microscope. Here we show a result, which probes THz evanescent waves with 60 nm resolution with our microscope. Finally we also show nano-thermometory as an application.
Journal
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- SEISAN KENKYU
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SEISAN KENKYU 65 (6), 811-815, 2013
Institute of Industrial Science The University of Tokyo
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679037759616
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- NII Article ID
- 130003393847
- 40019937157
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- NII Book ID
- AN00127075
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC2cXktVagsLk%3D
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- ISSN
- 18812058
- 0037105X
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- NDL BIB ID
- 025133002
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN
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- Abstract License Flag
- Disallowed