固体表面最外層の状態観測の最近の進歩

• 宇佐美 誠二

  横浜国立大学工学部

• 藤川 高志

  横浜国立大学工学部

書誌事項

タイトル別名

• Recent Progress in Study on Outer-Most Layers of Solid Surfaces

抄録

最近の内外の研究から, (1) 表面最外層の状態観測が可能なぺニングイオン化電子分光法, (2) 光 (X線)を用いずに,電子線照射でEXAFSを観測する方法, (3) 表面準位をバルク準位から判別する方法とその応用, (4) 表面に形成される一次元伝導性物質など,四つの話題を紹介する.

収録刊行物

• 応用物理

  応用物理 54 (8), 799-805, 1985

  公益社団法人 応用物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282679571934208
• NII論文ID: 130003591741
• DOI: 10.11470/oubutsu1932.54.799
• ISSN: 21882290
• ISSN: 03698009
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可