イオンビームによる表面構造解析

• 青野 正和

  理化学研究所表面界面工学研究室

• 片山 光浩

  理化学研究所表面界面工学研究室

書誌事項

タイトル別名

• Ion beam surface crystallography.

抄録

低速イオン散乱分光 (LEIS法またはISS), 中速イオン散乱分光 (MEIS), 高速イオン散乱分光 (HEISまたはRBS) による表面構造解析のこれまでの発展を振り返り, 現状について実際の研究例をあげながら解説し, 将来の展望を行っている。

収録刊行物

• 表面科学

  表面科学 10 (10), 676-685, 1989

  公益社団法人 日本表面科学会

詳細情報

• CRID: 1390001206456594048
• NII論文ID: 130003683046
• DOI: 10.1380/jsssj.10.676
• COI: 1:CAS:528:DyaK3cXitVGhur0%3D
• ISSN: 18814743
• ISSN: 03885321
• Web Site: http://www.jstage.jst.go.jp/article/jsssj1980/10/10/10_10_676/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可