端末からの漏洩電磁波の傍受による表示画面の再現実験  [in Japanese] A Trial of the Interception of Display Image Using Emanation of Electromagnetic Wave  [in Japanese]

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Author(s)

    • 田中 秀磨 TANAKA Hidema
    • 独立行政法人情報通信研究機構 情報セキュリティセンター Information Security Center, National Institute of Information and Communications Technology
    • 滝澤 修 TAKIZAWA Osamu
    • 独立行政法人情報通信研究機構 情報セキュリティセンター Information Security Center, National Institute of Information and Communications Technology
    • 山村 明弘 YAMAMURA Akihiro
    • 独立行政法人情報通信研究機構 情報セキュリティセンター Information Security Center, National Institute of Information and Communications Technology

Abstract

ディスプレイなどの映像端末からノイズとして放射される漏洩電磁波を傍受することにより,表示画面を再現する実験を行った.パーソナルコンピュータを対象とし,以下の三つの手段を用いて表示画面の傍受を試みた.(1)近磁界プローブを端末に接触させた場合.(2)離れた場所からアンテナを用いた場合.(3)端末の電源ケーブルにインジェクションプローブをはさんだ場合.(1)の結果から,画面傍受が可能なだけでなく,ビデオ信号の同期周波数に関する個体ごとの僅かなばらつきによって,ターゲットの弁別が可能であることを示す.(2)の結果から,VCCIで規制対象となっている1GHz以下の周波数でもターゲットから4m離れた場所から画面傍受ができること示す.(3)の結果から,ACアダプタとプローブの位置関係が実験に影響を与えることを明らかにし,ターゲットから30m離れた電源ケーブルから画面傍受ができることを示す.<br>

This paper describes the experiments and analysis of the interception of personal computer's display image using emanation of electromagnetic wave. We used personal computers as the targets and experimented on reconstruction of screen information under the following equipments and environments; (1) using a near magnetic field probe, (2) using an antenna from away place, (3) using an injection probe over power supply cable. From the result of (1), we show that the slight difference in the synchronous frequency of video signal among PCs will become the key which recognizes the target. In the experiment (2), we succeeded from about 4 meters away place with frequency which is inside of VCCI regulations. In the experiment (3), we succeeded the interception from about 30 meters away place, and we found that the result depends on position relation between a probe and AC adapter.<br>

Journal

  • The Journal of the Institute of Image Electronics Engineers of Japan

    The Journal of the Institute of Image Electronics Engineers of Japan 34(2), 147-155, 2005

    The Institute of Image Electronics Engineers of Japan

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    130004437579
  • Text Lang
    JPN
  • ISSN
    0285-9831
  • Data Source
    J-STAGE 
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