高分子階層構造の静的・動的解析のための広角小角X線散乱/振動スペクトル同時測定システムの開発と展開

• 田代 孝二

  豊田工業大学大学院工学研究科極限材料専攻

• 山元 博子

  豊田工業大学大学院工学研究科極限材料専攻

• 吉岡 太陽

  豊田工業大学大学院工学研究科極限材料専攻

• NINH Tran Hai

  Department of Future Industry-oriented Basic Science and Materials, Graduate School of Engineering, Toyota Technological Institute

• 嶋田 茂

  ブルカー・オプティクス(株)

• 中谷 剛

  ブルカー・オプティクス(株)

• 岩本 裕之

  高輝度光科学研究センター

• 太田 昇

  高輝度光科学研究センター

• 増永 啓康

  高輝度光科学研究センター

書誌事項

タイトル別名

• New Developments in the Simultaneous Measurement System of Wide-Angle and Small-Angle X-ray Scatterings and Vibrational Spectra for the Static and Dynamic Analyses of the Hierarchical Structures of Polymer Solids

抄録

種々の外部条件変化に伴う高分子の静的，動的構造変化解明を目的として筆者らが開発してきた広角X線回折(WAXD)，小角X線散乱(SAXS)，ラマンスペクトルあるいは透過赤外スペクトル同時測定システムについて，その内容を記述するとともに，長所，短所を議論した．これらのシステムを利用したケーススタディーとして，a軸配向ポリエチレンの延伸に伴う再配向現象，ムコン酸エステルモノマー単結晶の光誘起固相重合反応における構造変化，脂肪族ナイロンの二段階高温相転移における構造変化，ポリテトラメチレンテレフタラート配向試料の張力誘起結晶相転移における結晶構造変化と高次構造変化の関わり，ポリ乳酸メゾ相からの等温結晶化現象における構造規則化過程について，それぞれ実験データの解析結果をレビューした．そして，高分子の階層構造変化解明における同時測定システムの有用性を明らかにした．

収録刊行物

• 高分子論文集

  高分子論文集 69 (5), 213-227, 2012

  公益社団法人 高分子学会

キーワード

• Wide-Angle X-ray Diffraction
• Small-Angle X-ray Scattering
• Raman Spectra
• Transmission Infrared Spectra
• Simultaneous Measurement System
• Polymer Hierarchical Structure
• Crystalline Phase Transitions
• Crystallization

詳細情報

• CRID: 1390282681502193792
• NII論文ID: 130004489400
• DOI: 10.1295/koron.69.213
• COI: 1:CAS:528:DC%2BC38XhtF2ms7vP
• ISSN: 18815685
• ISSN: 03862186
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可