Arクラスターイオン衝撃により生体高分子薄膜から放出される二次イオン収率の入射サイズ依存性

• 二宮 啓

  京大工量子理工

• 市木 和弥

  京大工原子核工

• 中田 由彦

  京大工原子核工

• 瀬木 利夫

  京大工量子理工

• 青木 学聡

  京大工量子理工

• 松尾 二郎

  京大工量子理工

書誌事項

タイトル別名

• Incident size dependence of secondary ion yields emitted from biomolecules under Ar cluster ion bombardment

抄録

クラスターイオンをプローブとする有機物の二次イオン質量分析は、単原子イオンと比較して収率が高く試料の損傷も少ない。しかしクラスター照射での収率増加機構や最大収率を与えるための入射サイズの最適化については、ほとんど研究されていない。そこで本研究ではサイズ選別したArクラスターをアミノ酸薄膜に照射し、二次イオンを飛行時間型質量分析法を用いて測定することにより収率の入射サイズ依存性について調べた。

収録刊行物

• 表面科学講演大会講演要旨集

  表面科学講演大会講演要旨集 26 (0), 106-106, 2006

  公益社団法人 日本表面科学会

詳細情報

• CRID: 1390001205647292800
• NII論文ID: 130004673356
• DOI: 10.14886/sssj.26.0.106.0
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可