Experimental Realization of Three-Dimensional Topological Insulator Phase in Ternary Chalcogenide TlBiSe<sub>2</sub>

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  • 3元トポロジカル絶縁体TlBiSe<sub>2</sub>におけるディラック表面状態の観測

Abstract

トポロジカル絶縁体は完全スピン偏極ディラック表面電子状態を持った特殊な物質として知られる。これまでに幾つかの物質でディラック表面電子が観測されている。その中、最近新たにタリウム系三元カルコゲナイド化合物がトポロジカル絶縁体の候補として予言された。本研究ではそのトポロジカル絶縁体の候補であるTlBiSe2の角度分解光電子分光法によるディラック表面電子状態の直接観測を行った。

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1390001205679141504
  • NII Article ID
    130005038217
  • DOI
    10.14886/sssj2008.30.0.415.0
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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