精密位相雑音測定におけるサンプリングクロックの影響

• 平野 育

  産業技術総合研究所

• 柳町 真也

  産業技術総合研究所

• 池上 健

  産業技術総合研究所

• 高見澤 昭文

  産業技術総合研究所

書誌事項

タイトル別名

• Influence of the Sampling Clock on the Precise Phase Noise Measurement
• セイミツ イソウ ザツオン ソクテイ ニ オケル サンプリングクロック ノ エイキョウ

抄録

In the precise phase noise measurement, we studied the influence of the relation between the frequency of the measured signal and sampling frequency on the phase noise value. It is revealed that the error of the phase noise L(f) decreases with the increasing of the offset frequency in the L(f) characteristic.

収録刊行物

• 電気学会論文誌．　Ａ

  電気学会論文誌．　Ａ 136 (7), 455-457, 2016

  一般社団法人 電気学会

キーワード

• 低オフセット周波数
• スペクトル形状
• 位相雑音
• 離散フーリエ変換
• 水素メーザー

詳細情報

• CRID: 1390001204599994624
• NII論文ID: 130005160681
• NII書誌ID: AN10136312
• DOI: 10.1541/ieejfms.136.455
• ISSN: 13475533
• ISSN: 03854205
• NDL書誌ID: 027541157
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027541157
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/136/7/136_455/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可