垂直磁気記録媒体用CoPt基合金-酸化物グラニュラー薄膜の柱状成長臨界膜厚の評価

• 佐々木 晋五

  一関工業高等専門学校　制御情報工学科

• 佐々木 有三

  東北大学大学院工学研究科　電子工学専攻

• 斉藤 伸

  東北大学大学院工学研究科　電子工学専攻

書誌事項

タイトル別名

• Critical Layer Thickness for Columnar Growth Nanostructures of CoPt-based Alloy-Oxide Granular Media used for Perpendicular Magnetic Recording
• 垂直磁気記録媒体用CoPt基合金一酸化物グラニュラー薄膜の柱状成長臨界膜厚の評価
• スイチョク ジキ キロク バイタイヨウ CoPtキ ゴウキン イッサンカブツ グラニュラー ハクマク ノ チュウジョウ セイチョウ リンカイ マクアツ ノ ヒョウカ

抄録

　A method for quantitatively determining the critical thickness, d_crit., for columnar growth of a CoPtCr-SiO₂ granular layer was evaluated. The value of d_crit. can be determined from a plot of the perpendicular magnetic anisotropy energy (K_u) of the layer, K_u×d_mag., versus the layer thickness, d_mag.. The value of d_crit. reflects the structural uniformity of the layer in the thickness direction, and can be used as an index for choosing suitable deposition conditions and the material for the granular layer. Using the proposed method, columnar growth structures can be analyzed by evaluating their magnetic properties and layer thickness without observing cross-sectional TEM images. This inexpensive and simple method can potentially be used to characterize columnar growth structures on the nanometer scale.<br>

収録刊行物

• Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　ｔｈｅ　Ｖａｃｕｕｍ　Ｓｏｃｉｅｔｙ　ｏｆ　Ｊａｐａｎ

  Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　ｔｈｅ　Ｖａｃｕｕｍ　Ｓｏｃｉｅｔｙ　ｏｆ　Ｊａｐａｎ 60 (3), 112-118, 2017

  一般社団法人 日本真空学会

キーワード

• Spectroscopy
• Surfaces and Interfaces
• Instrumentation
• General Materials Science

詳細情報

• CRID: 1390001205293861248
• NII論文ID: 130005466794
• NII書誌ID: AA12298652
• DOI: 10.3131/jvsj2.60.112
• ISSN: 18824749
• ISSN: 18822398
• NDL書誌ID: 028053561
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I028053561
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jvsj2/60/3/60_16-RA-021/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可