ITO/Ru錯体/Auナノ粒子接合の導電性探針AFMを用いた電気伝導計測

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タイトル別名
  • Electrical property of ITO/Ru complex/Au nanoparticle device structure by conductive probe atomic force microscopy

抄録

<br><br>分子エレクトロニクスの分野では電極-分子デバイス構造における電荷の生成と輸送の制御が求められている。我々は可視光によって励起されるRu錯体を電荷の発生源、Auナノ粒子を電荷の輸送体として用い、Auナノ粒子がRu錯体に接合したITO/Ru錯体/Auナノ粒子接合を作製した。本デバイス構造におけるITO-Auナノ粒子間の電気伝導特性を導電性探針AFMを用いて測定したので報告する。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205678568192
  • NII論文ID
    130005489302
  • DOI
    10.14886/sssj2008.35.0_331
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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