ITO/Ru錯体/Auナノ粒子接合の導電性探針AFMを用いた電気伝導計測
書誌事項
- タイトル別名
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- Electrical property of ITO/Ru complex/Au nanoparticle device structure by conductive probe atomic force microscopy
抄録
<br><br>分子エレクトロニクスの分野では電極-分子デバイス構造における電荷の生成と輸送の制御が求められている。我々は可視光によって励起されるRu錯体を電荷の発生源、Auナノ粒子を電荷の輸送体として用い、Auナノ粒子がRu錯体に接合したITO/Ru錯体/Auナノ粒子接合を作製した。本デバイス構造におけるITO-Auナノ粒子間の電気伝導特性を導電性探針AFMを用いて測定したので報告する。
収録刊行物
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- 表面科学学術講演会要旨集
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表面科学学術講演会要旨集 35 (0), 331-, 2015
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205678568192
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- NII論文ID
- 130005489302
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可