FIM/FEMを用いた先鋭化したシャープペンシル芯の構造評価 Structural characterization of sharpened mechanical pencil lead by means of FIM/FEM

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炭素ナノ構造体は低電界で良好な電子放出特性を有する。我々は垂直配向したグラファイトエッジを有するシャープペンシル芯断面を電子源として利用し、その電子放出特性が極めて良好であることを示した。しかし、先端形状が複雑であるために電子放出の起源となる電子放出サイトの同定は困難であった。そこで、先鋭化し形状を単純化したシャープペンシル試料にFIM/FEM計測を行うことでエミッタ形状と電子放出の関係を調べる。

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  • Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan

    Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan 35(0), 293, 2015

    The Surface Science Society of Japan

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