静電気力顕微鏡による有機薄膜太陽電池表面の電荷検出
書誌事項
- タイトル別名
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- Charge detection on organic photovoltaic thin film by Electrostatic Force Microscopy
抄録
静電気力顕微鏡(EFM)は有機分子上に生成した静電荷、分極状態をナノスケールで検出・画像化できる有力な方法である。EFMを用いれば、有機薄膜太陽電池への光照射により生じる励起子や電荷を画像としてとらえることができる。今回は、振幅フィードバック条件下で、周波数シフトにより光照射で誘起された電荷による静電気力を検出することに成功した。現在、静電気力画像の取得および時間分解静電気力測定に向けた研究を進めている。<br>
収録刊行物
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- 表面科学学術講演会要旨集
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表面科学学術講演会要旨集 35 (0), 334-, 2015
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205678602368
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- NII論文ID
- 130005489377
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可