超音速H_2分子線による曲率を有する炭素系低分子と水素との反応計測 Reaction measurement between carbon-based molecule and H_2 using Supersonic H_2 beam

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本研究では、炭素系低分子による薄膜と水素分子との反応を、超音速分子線の反応性散乱計測により解析した。モデル系としてCu(111)上のC60単分子層に注目し、水素分子線の回折スペクトルをHe原子線の回折スペクトルと比較することで、水素の感じるポテンシャルエネルギー表面の形状に関する情報を得た。講演ではC60以外にもsumanene等の曲率を有するπ共役系分子膜からの水素分子線散乱を議論する。

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  • Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan

    Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan 35(0), 375, 2015

    The Surface Science Society of Japan

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