素粒子ミュオンを用いた特性X線分析法の開発 〜地球惑星試料分析の実用化にむけて〜
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- 寺田 健太郎
- 大阪大学
書誌事項
- タイトル別名
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- Development on Muonic X-ray spectroscopy for planetary materials.
抄録
<p> 負ミュオン(μ-粒子)は、電荷-1、質量が電子の約200倍の不安定素粒子である。ミュオンによる元素分析の可能性は、50年ほど前に指摘はされていたが、近年、大強度のミュオンビームの生成に成功したことにより、μ粒子線を用いた非破壊元素分析が現実的になってきた。 [1]軽元素を含む全元素同時分析、[2]深度プロファイル分析(封入したサンプルの分析)、[3]同位体分析、[4]化学状態分析、を合わせもつ非破壊ミュオン特性X線分析は、地球惑星科学において全く新しいユニークな「プローブ」となりうる。学会当日は、我々が取り組んでいるミュオン特性X線分析の現状と今後の展望についてご紹介したい。</p>
収録刊行物
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- 日本地球化学会年会要旨集
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日本地球化学会年会要旨集 64 (0), 196-, 2017
一般社団法人日本地球化学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205738153088
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- NII論文ID
- 130006198640
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可