素粒子ミュオンを用いた特性X線分析法の開発  〜地球惑星試料分析の実用化にむけて〜

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タイトル別名
  • Development on Muonic X-ray spectroscopy for planetary materials.

抄録

<p> 負ミュオン(μ-粒子)は、電荷-1、質量が電子の約200倍の不安定素粒子である。ミュオンによる元素分析の可能性は、50年ほど前に指摘はされていたが、近年、大強度のミュオンビームの生成に成功したことにより、μ粒子線を用いた非破壊元素分析が現実的になってきた。 [1]軽元素を含む全元素同時分析、[2]深度プロファイル分析(封入したサンプルの分析)、[3]同位体分析、[4]化学状態分析、を合わせもつ非破壊ミュオン特性X線分析は、地球惑星科学において全く新しいユニークな「プローブ」となりうる。学会当日は、我々が取り組んでいるミュオン特性X線分析の現状と今後の展望についてご紹介したい。</p>

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205738153088
  • NII論文ID
    130006198640
  • DOI
    10.14862/geochemproc.64.0_196
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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