硬X線光電子分光によるEu(Rh_1-xIr_x)₂Si₂の温度誘起価数転移の研究

• 松本 孝之

  阪府大院工

• 市木 勝也

  阪府大院工

• 安齋 太陽

  阪府大院工

• 阿部 晃大

  阪府大院工

• 石原 涼奈

  阪府大院工

• 竹下 遼平

  阪府大院工

• 魚住 孝幸

  阪府大院工

• 佐藤 仁

  広大放射光

• Rousuli A.

  広大院理

• 上田 茂典

  物材機構

• 田口 幸広

  阪府大院工

• 藤本 巧

  九大院理

• 喜舎場 英吾

  九大院理

• 光田 暁弘

  九大院理

• 和田 裕文

  九大院理

• 三村 功次郎

  阪府大院工

書誌事項

タイトル別名

• Hard X-ray Photoemission Study of the Temperature-Induced Valence Transition System Eu(Rh_1-xIr_x)₂Si₂

抄録

Eu(Rh_1-x_Ir_x_)_2_Si_2_が示す温度誘起価数転移を電子状態の立場から解明することを目的として、硬X線光電子分光実験を行った。得られたEu 3dスペクトルからEu平均価数の温度依存性を評価すると共に、そのスペクトル形状を不純物アンダーソンモデルで解析することで価数転移に重要な物理パラメータを導出した。その結果、陰イオン置換系であるEuNi_2_(Si_1-x_Ge_x_)_2_と比較して、c-f混成が大きく働いていることが分かった。

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 71.2 (0), 2141-2141, 2016

  一般社団法人 日本物理学会

キーワード

• ｆ電子系
• 希土類化合物（その他）
• 光電子分光
• 重い電子系及び価数揺動

詳細情報

• CRID: 1390001205958029952
• NII論文ID: 130006244935
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2141
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可