原子層厚グラフェンのX線光電子スペクトルのレプリカ交換モンテカルロ法によるスペクトル分解

• 有嶋 駿士郎

  熊大理

• 岩満 一功

  熊大理

• 相原 慎吾

  熊大院自然

• 高橋 和敏

  佐賀大SLセ

• 徳田 悟

  東大院新領域

• 岡田 真人

  東大院新領域:理研脳総研

• 赤井 一郎

  熊大パルス研

書誌事項

タイトル別名

• Spectral decomposition of X-ray photoelectron spectrum in graphenes having atomic thicknesses with a replica exchange Monte Carlo method

抄録

X線光電子分光解析では、ピーク位置やピーク強度から化学結合状態などの情報を得るために高精密なスペクトル分解が要求されている。我々はSiC基板上原子層厚グラフェンのC1s準位のX線光電子スペクトルをレプリカ交換モンテカルロ法を用いて解析を行った。発表では、解析にて得られる各パラメータの確率分布推定及び、それらの平均値からスペクトルの再現を確認できたことを報告する。

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 72.1 (0), 1584-1584, 2017

  一般社団法人 日本物理学会

キーワード

• 光電子分光・逆光電子分光
• その他

詳細情報

• CRID: 1390282681022625024
• NII論文ID: 130006709400
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.72.1.0_1584
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可