Evaluation of the Electronic Structure of the Single-molecule Junction Based on Current-Voltage Measurement and Thermopower Measurement – Application to C60 Single-molecule Junction

• Isshiki Yuji

  Tokyo Institute of Technology

• Komoto Yuki

  Tokyo Institute of Technology

• Fujii Shintaro

  Tokyo Institute of Technology

• Kiguchi Manabu

  Tokyo Institute of Technology

Bibliographic Information

Other Title

• IV特性・熱起電力計測によるC60単分子接合の電子状態の解明

Abstract

単分子物性の理解や単分子素子の開発ためには単分子接合の電子状態の解明は欠かせない。単分子レベルのIV特性・熱起電力測定によって金属と接合した分子のフェルミ準位近傍の電子状態の情報が得られる。本研究ではSTMを用いた熱起電力計測とI-V計測によって新たな電子状態決定法の開発を行った。今回はこれらによってAu-C60単分子接合の金のフェルミエネルギー近傍の電子状態の決定に成功した。

Journal

• Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan

  Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan 72.1 (0), 2442-2442, 2017

  The Physical Society of Japan

Keywords

• ナノチューブ・ナノワイヤ
• 金属
• 走査プローブ顕微鏡法

Details

• CRID: 1390282681024584192
• NII Article ID: 130006710283
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.72.1.0_2442
• ISSN: 21890803
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • JaLC
  • CiNii Articles
• Abstract License Flag: Disallowed