Si(111)√3×√3-B基板上のAg(111)超薄膜のSTM像に現われる埋もれた界面構造

• 福元 博之

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 吉池 雄作

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 田尻 寛男

  高輝度光科学研究センター利用研究促進部門

• 山崎 詩郎

  東京工業大学理学院

• 中辻 寛

  東京工業大学物質理工学院

• 平山 博之

  東京工業大学理学院

書誌事項

タイトル別名

• Interface Induced STM Image at Ultrathin Ag(111) Films on Si(111)√3×√3-B Substrates
• Si(111)√ 3 × √ 3-B キバン ジョウ ノ Ag(111)チョウハクマク ノ STMゾウ ニ アラワレル ウズモレタ カイメン コウゾウ

抄録

The buried interface structure was found to cause faint 3×3 periodic ripples in scanning tunneling microscope (STM) at the surface of ultra-thin Ag films on the Si(111)√3×√3-B substrate. The ripples were purely geometric, since they showed no bias voltage dependence. X-ray diffraction revealed that the Ag/Si lattice commensuration introduces the 3×3 periodic displacement to the bottom layer of the Ag film. The displacement was also found to be transferred to upper layers in the Ag film while damping. It manifests itself as the 3×3 faint ripples on top of the Ag film in STM.

収録刊行物

• 表面と真空

  表面と真空 61 (10), 657-662, 2018-10-10

  公益社団法人 日本表面真空学会

キーワード

• scanning tunneling microscope
• buried interface
• x-ray diffraction
• ultrathin film

詳細情報

• CRID: 1390564238035817600
• NII論文ID: 130007496810
• NII書誌ID: AA12808657
• DOI: 10.1380/vss.61.657
• ISSN: 24335843
• ISSN: 24335835
• NDL書誌ID: 029307567
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/029307567
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029307567
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/vss/61/10/61_20180210/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可