軟X線及び硬X線ラマン散乱によるCaCu<sub>3</sub>Ti<sub>4</sub>O<sub>12</sub>の電子構造研究II

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タイトル別名
  • Electronic Structure Study of CaCu<sub>3</sub>Ti<sub>4</sub>O<sub>12</sub> by means of Soft and Hard X-ray Raman Scattering II.

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390845713020491904
  • NII論文ID
    130007507404
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.72.2.0_1221
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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