軟X線及び硬X線ラマン散乱によるCaCu<sub>3</sub>Ti<sub>4</sub>O<sub>12</sub>の電子構造研究II
書誌事項
- タイトル別名
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- Electronic Structure Study of CaCu<sub>3</sub>Ti<sub>4</sub>O<sub>12</sub> by means of Soft and Hard X-ray Raman Scattering II.
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 72.2 (0), 1221-1221, 2017
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390845713020491904
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- NII論文ID
- 130007507404
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles