超高圧電子顕微鏡による観察可能試料厚さの定量評価

• 佐藤 和久

  阪大電顕C

• 山下 悠輝

  阪大工院

• 保田 英洋

  阪大電顕C

• 森 博太郎

  阪大電顕C

書誌事項

タイトル別名

• Quantitative evaluation of the maximum observable thickness by high-voltage electron microscopy

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 72.2 (0), 2347-2347, 2017

  一般社団法人 日本物理学会

キーワード

• 格子欠陥・ナノ構造
• 転位・面欠陥
• イメージング法
• 電子線

詳細情報

• CRID: 1390282763065060224
• NII論文ID: 130007507525
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.72.2.0_2347
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles