Electric Field Observation Method for a p-n Junction by DPC STEM

• Toyama Satoko

  東京大学

• Seki Takehito

  東京大学

• Sasaki Hirokazu

  古河電気工業株式会社

• Ikuhara Yuichi

  東京大学・ファインセラミックスセンターナノ構造研究所

• Shibata Naoya

  東京大学・ファインセラミックスセンターナノ構造研究所

Bibliographic Information

Other Title

• DPC STEMを用いた高分解能pn接合電場観察手法

Journal

• Materia Japan

  Materia Japan 58 (2), 102-102, 2019-02-01

  The Japan Institute of Metals and Materials

Keywords

• differential phase contrast
• semiconductor
• segmented detector

Details

• CRID: 1390564238074517760
• NII Article ID: 130007601499
• DOI: 10.2320/materia.58.102
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia/58/2/58_102/_pdf
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN