InGaAs 2次元電子ガス2層系における「指紋」としての分数プラトーの痕跡

• 山田 省二

  大阪工大

• 藤元 章

  大阪工大

• 日高 志郎

  大阪大

• 赤堀 誠志

  北陸先端大

• 今中 康貴

  物材機構

• 竹端 寛治

  物材機構

書誌事項

タイトル別名

• Traces of fractional plateaus in InGaAs 2DEG bilayer as a fingerprint

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 73.1 (0), 1201-1201, 2018

  一般社団法人 日本物理学会

キーワード

• 半導体スピントロニクス
• 実験
• 輸送現象
• 分数量子ホール効果

詳細情報

• CRID: 1390845713065902208
• NII論文ID: 130007646175
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.73.1.0_1201
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles