項目露出率最小化のための整数計画問題を用いた適応型テスト

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タイトル別名
  • Computerized Adaptive Testing Method using Integer Programming to Minimize Item Exposure

抄録

<p>適応型テストとは，受検者の能力を逐次的に推定し，その能力に応じて測定精度が最も高い項目を選択するテスト出題形式である。しかし，従来の適応型テストでは，能力が同等な受検者には全く同じ項目群が出題される可能性が高く，同一の受検者が繰り返しテストを受けることができず，実際に適応型テストを導入しているSPIやGTECの重要な問題になっている。本研究では，能力が同等な受検者であっても異なる項目を同一の測定精度を保ちつつ適応的に出題できる適応型テストを提案する。本論では，シミュレーション実験と実データを用いた実験により提案手法の有効性を示す。実験結果から，1) 提案手法は出題されたテストの長さが最も短く，2)受検者に異なる項目を出題して項目露出率を制御しながら，測定精度が等質なテストであり，3)項目露出率の平均を下げることが確認された。</p>

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001277395330176
  • NII論文ID
    130007658840
  • DOI
    10.11517/pjsai.jsai2019.0_4h2e502
  • 本文言語コード
    en
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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