書誌事項
- タイトル別名
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- Analysis of Initial Stage in Thin Film Growth of Organic Semiconductor Using Quartz Crystal Microbalance
- スイショウ シンドウシ マイクロバランス オ モチイタ ユウキ ハンドウタイ ハクマク ケイセイ ショキ カテイ ノ カイセキ
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抄録
<p>In the thin-film growth of organic semiconductors, understanding the elementary processes is required to control thin-film structures such as molecular orientation and nucleation density. We have used the quartz crystal microbalance (QCM), which is non-destructive and high-sensitivity measurement technique, for the in-situ analysis of initial stage in organic thin-film growth. In this study, we evaluate the initial stage in thin-film growth of pentacene, which is a bench mark material in the organic semiconductors, on a polyimide surface, and discuss the nucleation process considering a meta-stable state.</p>
収録刊行物
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- 表面と真空
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表面と真空 62 (8), 498-503, 2019-08-10
公益社団法人 日本表面真空学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282763133140224
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- NII論文ID
- 130007689522
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- NII書誌ID
- AA12808657
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- ISSN
- 24335843
- 24335835
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- NDL書誌ID
- 029939292
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可