点欠陥研究の現状

• 米永 一郎

  東北大学 (名誉教授)

書誌事項

タイトル別名

• Perspective on the present research on native point-defects in semiconductors: A point-defect dilemma?
• 点欠陥研究の現状 : Point-defect dilemma in semiconductors
• テン ケッカン ケンキュウ ノ ゲンジョウ : Point-defect dilemma in semiconductors
• Point-defect dilemma in semiconductors

抄録

半導体中の固有点欠陥はデバイスの性能と劣化に影響するため，その形成と移動について実験と理論の両面から多くの研究が進められてきた．しかしながら，それらの報告値は現状，混乱の極みにある．ここでは，半導体中の点欠陥の原子構造と電荷状態の基礎的な説明のあと，シリコンでの形成エネルギーに関する実験結果，理論的予測，それらに対する外部静水圧や不純物の影響，複合体化，さらにエントロピーに関する現状を紹介する．その後，ゲルマニウムとワイドギャップ半導体における研究を簡単に述べる．

収録刊行物

• 応用物理

  応用物理 86 (12), 1040-1051, 2017-12-10

  公益社団法人 応用物理学会

詳細情報

• CRID: 1390564227308245248
• NII論文ID: 130007715530
• NII書誌ID: AN00026679
• DOI: 10.11470/oubutsu.86.12_1040
• ISSN: 21882290
• ISSN: 03698009
• NDL書誌ID: 028727637
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/028727637
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I028727637
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可