Pb(Zr,Ti)O<sub>3</sub>薄膜の圧電動作下における時分割XAFS測定

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タイトル別名
  • Time-resolved XAFS measurement under piezoelectric response of Pb(Zr,Ti)O<sub>3</sub> thin film

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390845702306770560
  • NII論文ID
    130007735865
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.73.2.0_2081
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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