シリコン基板上に成長したBi超薄膜の構造と電子状態

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タイトル別名
  • Structure and electronic states of Bi ultra-thin films grown on Si substrates

抄録

<p>近年、2次元トポロジカル絶縁体の候補の1つとして、黒リン構造をもつBi(110)超薄膜が注目されている。本研究は、Si(111)√3×√3-B基板上ではBi(110)構造をもつ島が安定的に成長し、その殆どが偶数原子層高さで黒リン構造をもつことや、少数の奇数原子層高さの島はバルク構造とは異なる構造をもつことを、原子構造と電子状態の観点から明らかにしてきた。講演ではその詳細を報告する。</p>

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001277376360704
  • NII論文ID
    130007737813
  • DOI
    10.14886/jvss.2019.0_3ha09
  • ISSN
    24348589
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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