書誌事項
- タイトル別名
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- Measurement of Complex Permittivity of a Dielectric Thin Film by the Cylindrical Cavity Resonator Having Sliding End Plates
- カヘン タンラク イタツキ エントウ クウドウ キョウシンキホウ ニ ヨル ウスガタ フィルム ノ ミリハフクソ ユウデンリツ ソクテイ
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抄録
<p>This technical report shows a measurement technique for the complex permittivity of a dielectric thin film with the cylindrical resonator having sliding end plates in the millimeter wave region. In order to eliminate the influence of unwanted TM111 resonance mode which is frequently appeared on the response of TE011 for measurement of the dielectric thin film, the position of the end plates is adjusted adequately. The methodology and experimental results are presented to show the usefulness of this technique.</p>
収録刊行物
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- 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌)
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電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) 140 (4), 492-495, 2020-04-01
一般社団法人 電気学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390565134843838976
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- NII論文ID
- 130007825209
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- NII書誌ID
- AN10065950
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- ISSN
- 13488155
- 03854221
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- NDL書誌ID
- 030376231
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可