書誌事項
- タイトル別名
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- The pH in Crevice Measured by a Semiconductor Chemical Sensor and Relationship with Crevice Corrosion Behavior of Stainless Steel
- ハンドウタイ カガク センサ デ ソクテイ シタ ステンレスコウ ノ スキマナイ pH ト スキマフショク キョドウ ト ノ カンケイ
- The pH in crevice measured by a semiconductor chemical sensor and relationshisp with crevice corrosion behavior of stainless steel
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抄録
<p>SUS304のすきま腐食挙動とすきま内pH(pHc)との関係を明らかにするために,定電位分極と半導体化学センサによるすきま内pHの同時測定をおこなった.</p><p>センサで測定されたpHは,金属イオンの影響を受けず,水素イオンの活量およびγH+を反映した値を示す.定電位分極によりすきま腐食が常に進行している場合,溶解した金属イオンのうち,主としてCr3+の加水分解反応やクロリド錯イオン形成に伴い,すきま内全体がpHc<0.0の極低pH環境となる.</p><p>一方,二段定電位分極法を用いた場合,すきま内の金属溶解量は二段目の電位(E2)に依存して低下し,最終的に再不働態化に至る.本研究の場合,すきま腐食進展後の再不働態化pHcは2.5~3,再不働態化電位ERは約80 mVという工学的意義の高い結果を得た.</p>
収録刊行物
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- Zairyo‐to‐Kankyo
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Zairyo‐to‐Kankyo 69 (2), 40-48, 2020-02-10
公益社団法人 腐食防食学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390285300180574720
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- NII論文ID
- 130007884393
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- NII書誌ID
- AN10235427
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- ISSN
- 18819664
- 09170480
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- NDL書誌ID
- 030269809
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可