表面増強ラマン散乱による1,4-ベンゼンジチオール単分子接合の温度計測

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タイトル別名
  • Temperature measurement of 1,4-benzendithiol single molecular junction by surface enhanced Raman scattering

抄録

<p>単分子接合は分子素子への応用が期待されており、接合温度は性能評価の上で重要である。本研究では表面増強ラマン散乱(SERS)計測により1’4-ベンゼンジチオール(BDT)単分子接合の温度計測を試みた。BDT単分接合形成時におけるストークス及びアンチストークス散乱に由来したピーク強度比から温度を得た。加熱効果による温度上昇を検討したところ、レーザー強度に依存した接合温度の検出に成功した。</p>

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1391131406292186496
  • NII論文ID
    130007959435
  • DOI
    10.14886/jvss.2020.0_263
  • ISSN
    24348589
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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