表面増強ラマン散乱による1,4-ベンゼンジチオール単分子接合の温度計測
書誌事項
- タイトル別名
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- Temperature measurement of 1,4-benzendithiol single molecular junction by surface enhanced Raman scattering
抄録
<p>単分子接合は分子素子への応用が期待されており、接合温度は性能評価の上で重要である。本研究では表面増強ラマン散乱(SERS)計測により1’4-ベンゼンジチオール(BDT)単分子接合の温度計測を試みた。BDT単分接合形成時におけるストークス及びアンチストークス散乱に由来したピーク強度比から温度を得た。加熱効果による温度上昇を検討したところ、レーザー強度に依存した接合温度の検出に成功した。</p>
収録刊行物
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- 日本表面真空学会学術講演会要旨集
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日本表面真空学会学術講演会要旨集 2020 (0), 263-, 2020
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1391131406292186496
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- NII論文ID
- 130007959435
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- ISSN
- 24348589
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可