全電子収量軟X線吸収分光による一本鎖DNAの放射線損傷解析

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タイトル別名
  • Radiation damage analysis of single-stranded DNA by total electron yield soft X-ray absorption spectroscopy

抄録

<p>我々は過去にDNAを用いたトランジスタに軟X線照射を行うことで，DNA損傷に起因すると思われるドレイン電流値の減少を確認した。本研究では，DNAの放射線損傷メカニズムを検討するこ とを目的とし，全電子収量軟X線吸収分光（TEY-XAS） を用いて一本鎖 DNAの構造変化の解析を試みた。得られたスペクトルから，DNAの塩基部分にピリミジン二量体の形成や，チミンに含まれるメチル基の脱離の可能性が示唆された。</p>

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390286981362088448
  • NII論文ID
    130007959500
  • DOI
    10.14886/jvss.2020.0_87
  • ISSN
    24348589
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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