X線反射率測定によるイオン液体中で形成された電気二重層のその場構造解析2

DOI
  • 田村 和久
    日本原子力研究開発機構 物質科学研究センター

書誌事項

タイトル別名
  • Study of Structures of Electronic Double Layer Formed in Ionic Liquids Using X-ray Reflectivity 2

抄録

水、有機溶媒に続く第3の溶媒として注目されているイオン液体について、イオン液体/電極界面の振る舞いをX線反射率測定により検討することを試みた。既報では、反射率測定の測定方法に問題があり、界面の構造を反映した実験データを得ることができなかったことを報告した。本報告では、測定方法を見直すことにより、界面の構造変化に基づく反射率の変化を捉えることができ、イオン液体の組成の違いによる、界面の構造変化の違いを見いだしたことを報告する。また、イオン液体中の典型的な不純物であるハロゲン化物イオンが界面の構造にどのような影響を与えるかについても検討する。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390850247499774080
  • NII論文ID
    130007991596
  • DOI
    10.18957/rr.9.2.146
  • ISSN
    21876886
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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