低速陽電子ビーム分析技術に関する調査研究

• 満汐 孝治

  産業技術総合研究所 計量標準総合センター 分析計測標準研究部門

書誌事項

タイトル別名

• A Survey on Analytical Techniques Using Slow Positron Beam
• テイソク ヨウデンシ ビーム ブンセキ ギジュツ ニ カンスル チョウサ ケンキュウ

収録刊行物

• 計測と制御

  計測と制御 60 (3), 228-235, 2021-03-10

  公益社団法人 計測自動制御学会

キーワード

• 陽電子消滅
• 陽電子ビーム
• 原子空孔
• 自由体積
• 表面

詳細情報

• CRID: 1390287385363833344
• NII論文ID: 130007999987
• NII書誌ID: AN00072406
• DOI: 10.11499/sicejl.60.228
• ISSN: 18838170
• ISSN: 04534662
• NDL書誌ID: 031354402
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/031354402
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I031354402
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN