Thickness Dependence of Extrinsic Dielectric Response in Reduced Ni-Doped KTaO<sub>3</sub>

収録刊行物

参考文献 (29)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1360003449885921920
  • NII論文ID
    210000141242
  • DOI
    10.7567/jjap.51.09lc01
  • ISSN
    13474065
    00214922
  • データソース種別
    • Crossref
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ