Thickness dependent electrical resistivity of ultrathin (<40 nm) Cu films
収録刊行物
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- Thin Solid Films
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Thin Solid Films 384 (1), 151-156, 2001-03
Elsevier BV
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1363388846094782464
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- NII論文ID
- 30006177122
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- ISSN
- 00406090
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- データソース種別
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- Crossref
- CiNii Articles