Coma-free alignment of high resolution electron microscopes with the aid of optical diffractograms
収録刊行物
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- Ultramicroscopy
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Ultramicroscopy 3 49-60, 1978-01
Elsevier BV
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キーワード
詳細情報
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- CRID
- 1363951795318940800
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- NII論文ID
- 30008702687
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- ISSN
- 03043991
- http://id.crossref.org/issn/03043991
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- データソース種別
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- Crossref
- CiNii Articles