Scanning Probe Tips Formed by Focused Ion Beams

DOI 被引用文献3件

収録刊行物

被引用文献 (3)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1573668923819312256
  • NII論文ID
    30015947294
  • DOI
    10.1063/1.1142334
  • データソース種別
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ